当前市场大量平价反射膜厚仪仅搭载单一卤素光源,光谱区间仅 400~1100nm 可见光近红外波段,缺失 190~400nm 深紫外关键波段,存在先天检测盲区。紫外波段是 20~100nm 超薄氧化膜、光刻胶、有机透明涂层的核心识别波段,缺少紫外光会导致超薄薄膜干涉信号微弱、多层复合膜分层解析失效,仅能检测 50nm 以上单层厚膜,半导体、紫外光学元件、新能源超薄涂层等场景无法使用,企业需额外采购专用紫外测厚设备,采购与运维成本翻倍。单一光源光谱存在断层,梯度膜、多层滤光膜拟合误差大,无法同步解析每层膜光学常数,研发与量产检测效率极低。


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