蓝景 TOC 分析仪（电导率法）：ppb级精准监测，助力芯片良率提升

半导体晶圆制造过程中，超纯水的纯度要求极-致严苛，水中痕量有机碳残留会吸附在晶圆表面，影响光刻、蚀刻等关键工艺，直接导致芯片良率下降。我们的TOC分析仪（电导率法），以ppb级高灵敏度检测能力，专为半导体超纯水监测打造，精准捕捉痕量有机碳，为半导体精密制造保驾护航。

极-致灵敏度，捕捉痕量隐患。半导体超纯水对TOC含量要求极-高，通常需控制在1ppb以下。我们的分析仪检测范围覆盖0.001mg/L~1.600mg/L（1ppb~1600ppb），示值误差仅±5%，重复性RSD≤2%，能精准捕捉超纯水中的痕量有机碳，远超行业监测标准。采用双波长高效氧化技术，185nm+254nm紫外灯产生强氧化性自由基，确保有机物彻-底氧化，结合差值电导率检测，彻-底消除无机碳干扰，每一组数据都精准可靠。